Kỹ thuật phân tích hàm lượng các nguyên tố cũng như cấu trúc pha và tinh thể của các nguyên tố đã sử dụng tia Rơn-ghen (X-ray) theo nguyên lý huỳnh quang (XRF) hay nhiễu xạ (XRD) giúp cho các nhà nghiên cứu kiểm tra chất lượng sản phẩm ở các viện, trường đại học và các nhà máy rút ngắn được thời gian phân tích, đơn giản hoá việc chuẩn bị mẫu, tiết kiệm được chi phí.
Thiết bị phân tích theo nguyên lý huỳnh quang tia X (XRF) gồm có các loại: MagiX, MagiXPRO, MagiXFAST, Venus 200 Minilab, Minipal 2, Minimate, Epsilon 5.
Thiết bị phân tích theo nguyên lý nhiễu xạ tia X (XRD) gồm có các loại: CubiXPRO, CubiXFAST, X’pent PRO MRD, X’pent PRO SAXS, SAXSess.
Liên hệ: Công ty Diethelm
Địa chỉ: 94 Trần Quốc Toản, Quận Hoàn Kiếm, Hà Nội
Điện thoại: 04-9424725, Fax: 04-9424730
